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奈米微粒暴露改善技術探討ILOSH111-H601

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內容簡介

奈米微粒逸散研究發現,當模擬危害源位於氣櫃內部中央,可變風量(VAV)氣櫃面速度下降及拉門開度提高時,奈米微粒逸散情形增加,雖然濃度不高,但部分時間可測得較明顯逸散情形。氣簾式(AC)氣櫃拉門開度由全開至低開時,發現在低開時有最多的微粒逸散。若模擬危害源置於氣罩內部左側,VAV氣櫃的面速度較高時及AC氣櫃的下吸速度較高時逸散情形較為明顯。使用VOC當作危害物時,測試結果也相同。電腦模擬所觀測之流場分布及微粒軌跡發現,氣流進入到氣櫃內部時,氣櫃皆會在拉門後方內部形成迴流區。當拉門開度較高時,危害物釋放後會隨氣流排出,並未觀測到逸散情形,但拉門開度降低時,危害物受到迴流影響移動軌跡較為複雜,在氣櫃內部不規則運動而累積,在VAV氣櫃模擬中也沒有發現逸散情形,只有在AC氣櫃且危害源在氣櫃左側模擬時有發現逸散情形。計畫所評估之VAV及AC氣櫃都可有效控制奈米微粒逸散,可供事業單位控制奈米微粒逸散參考。

作者

陳春萬:勞動部勞動及職業安全衛生研究所研究員
蔡春進:國立陽明交通大學-環境工程研究所講座教授
林冠宇:東海大學環境科學與工程學系助理教授

目錄

摘 要 ............................................................................ i
Abstract .......................................................................... ii
目次 ........................................................................................ iv
圖目次 ...................................................................................... v
表目次 ..................................................................................... xiii
第一章計畫概述...................................................................... 1
第一節前言 ................................................................ 1
第二節計畫目的及架構................................................. 23
第二章研究方法................................................................. 25
第一節文獻資料整理.......................................................... 25
第二節實場測試........................................................... 28
第三節氣櫃的逸散狀況的數值模擬.................................... 41
第四節工作場所的奈米微粒逸散控制.................................... 44
第三章結果與討論............................................................. 48
第一節奈米微粒逸散控制防護與管理文獻.............................. 48
第二節氣櫃的逸散狀況的實場測試............................. 52
第三節氣櫃有害物逸散控制的數值模擬....................... 95
第四節工作場所奈米微粒逸散控制....................................... 112
第四章結論與建議........................................................... 117
第一節結論 ................................................................... 117
第二節建議 ........................................................................... 117
後記 ......................................................................... 119
參考文獻 ................................................................................. 120
附錄一、實驗儀器的校正 ...................................................... 132
附錄二、感測器校正 ..................................... 139
附錄三、文獻詳細說明 ............................................. 145

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    • 語言
    • 中文繁體
    • 裝訂
    • 紙本平裝
    • ISBN
    • 9786267320280
    • 分級
    • 普通級
    • 頁數
    • 219
    • 商品規格
    • 29.4*20.9*1.4
    • 出版地
    • 台灣
    • 適讀年齡
    • 全齡適讀
    • 注音
    • 級別

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